การวิเคราะห์ pre-edge peak ด้วยโปรแกรม Larch
Pre-edge peak คือ ส่วนหนึ่งของ X-ray absorption near-edge structure (XANES) โดยเฉพาะธาตุในกลุ่มโลหะจะสามารถช่วงบ่งบอก oxidation state และสมมาตรของอะตอมที่สนใจได้ มีหลายโปรแกรมที่สามารถวิเคราะห์ pre-edge peak ได้ ทั้งโปรแกรมวิเคราะห์กราฟทั่วไป เช่น โปรแกรม MagicPlot ที่มีทั้งส่วนที่ฟรีและบางฟังค์ชั่นที่ต้องเสียเงินซื้อเพิ่มเติม โปรแกรมที่เสียเงิน เช่น Origin Pro หรือ IGOR pro โปรแกรมออกแบบเฉพาะในการวิเคราะห์ XAS เช่น Athena ที่เป็นโปรแกรมย่อยใน Demeter package1, XAS Viewer ใน Larch package2
Larch เป็นโปรแกรมที่เขียนด้วยภาษา Python รวบรวมชุดโปรแกรมย่อยเข้าด้วยกัน สามารถแสดงและวิเคราะห์ผลการทดลองจากเทคนิค X-ray absorption (XAS) and X-ray fluorescence spectroscopy (XRF) และสามารถแสดงภาพจาก XRF และ X-ray diffraction จากการ scan ด้วย X-ray microprobe แต่จะโฟกัสที่การวิเคราะห์ X-ray absorption fine-structure spectroscopy (XAFS) เป็นหลัก ในคู่มือนี้จะแสดงขั้นตอนการทำ pre-edge fitting โดยใช้ XAS Viewer
Baseline fitting
1. import data จาก raw data หรือ project file ของโปรแกรม Athena และทำการ normalize ให้เรียบร้อย (สามารถดูวิธีการ import และ normalize โดยใช้โปรแกรม Athena เพิ่มเติมได้จาก https://www.slri.or.th/BL1-1W/Athena.html)
2. เข้าสู่ Pre-edge Peak โดยเลือก Tab ในหน้าต่างด้านขวามือดังแสดงในรูปที่ 2
รูปที่ 2 หน้าต่าง Pre-edge Peak สำหรับการกำหนดช่วงที่ต้องการ fit และช่วง pre-edge peak
3. Zoom ดูกราฟในส่วน pre edge โดยใช้การคลิกซ้ายค้างไว้แล้วสร้างกรอบครอบส่วน pre edge
4. กำหนดช่วงที่ต้องการ fit pre edge ใส่ใน “Fit Energy Range” และระบุช่วงที่เป็น pre-edge peak ใน “Pre-edge Peak Range” ดังแสดงในรูปที่ 2 จากนั้นกดปุ่ม Fit Baseline
5. สังเกตว่าเส้น Base line ที่เกิดจาก fit ด้วยช่วงข้อมูลที่กำหนดไว้นั้นสอดคล้องกับข้อมูลดีหรือไม่ ถ้าไม่ดีให้กำหนดช่วงข้อมูลใหม่จนกว่าจะทับข้อมูลพอดีเช่นตัวอย่างในรูปที่ 3 โดยช่วงข้อมูลที่กำหนดจะแสดงด้วยเส้นตั้งสีเทา และจุดวงกลมสีน้ำเงินเข้มจะแสดงช่วง pre edge ที่เลือกไว้

รูปที่ 3 แสดงผลการ fit baseline ที่มีการเลือกช่วงต่างกัน (บนซ้าย) การเลือกช่วง “Fit Energy Range” ที่กว้างมากเกินไป, (บนขวา) ช่วง “Pre-edge Peak Range” ที่แคบกว้าง pre-edge peak ที่เป็นจริง, (ล่างกลาง) ช่วงที่เหมาะสมทำให้เส้น baseline ทับกับข้อมูลส่วนที่ไม่ใช่ pre-edge peak พอดี
Peak fitting
1. เลือก peak fitting ฟังค์ชั่น จาก drop down เมนูของ “Add Component” ดังแสดงในรูปที่ 4
รูปที่ 4 ฟังค์ชั่นสำหรับการทำ peak fitting
2. เลือก Pick Values from Plotted Data และคลิกเลือกช่วง peak สองตำแหน่ง เช่น เลือกใกล้ ๆ กับตำแหน่งจุดสีน้ำเงินสองจุด โปรแกรมจะคำนวณค่าเริ่มต้นและแสดงกราฟจากค่าเริ่มต้นด้วยเส้นสีม่วง
รูปที่ 5 เลือก Pick Values from Plotted Data และคลิกเลือกช่วง peak สองตำแหน่ง เช่น เลือกใกล้ ๆ กับตำแหน่งจุดสีน้ำเงินสองจุด โปรแกรมจะคำนวณค่าเริ่มต้นและแสดงกราฟจากค่าเริ่มต้นด้วยเส้นสีม่วง
3. กดปุ่ม “Fit Model” โปรแกรมจะแสดงผลการ fit โดยแสดงเส้น baseline เป็นเส้นประสีเขียวและ Peak ด้วยเส้นประสีส้ม ดังแสดงรูปที่ 6 (ซ้าย) ซึ่งในการ fit ครั้งแรกดูเหมือนจะใกล้เคียงกับข้อมูลและค่าพารามิเตอร์จากการ fit และค่า goodness of fit จะแสดงในหน้าต่าง Fit results ที่เพิ่มขึ้นมาใหม่
4. เลือก “Plot baseline-subtreacted” และ “Plot with residual?” ในหน้าต่าง Fit results เพื่อแสดงกราฟที่เกิดจากการ fit ที่หักลบ baseline พร้อมทั้งแสดงความแตกต่างระหว่างค่าการ fit และข้อมูลในหน้าต่างเล็กด้านล่าง (residual) ดังแสดงรูปที่ 6 (ขวา) จะพบว่ามี oscillation pattern ใน residual แสดงว่าอย่างน้อยต้องการอีกอย่างน้อย 1 peak
รูปที่ 6 (ซ้าย) แสดงผลจากการ fit ด้วย peak ที่ใช้ฟังค์ชั่น Gauss, (ขวา) หน้าต่างแสดงผลจากลบ baseline และค่าต่างระหว่าง peak ที่เกิดจากการ fit และข้อมูล
5. เพิ่ม gaussian peak รวมเป็น 2 peak พบว่า fit ได้ดีขึ้นกว่าเดิม และช่วง residual ลดลงครึ่งนึงจาก ±0.002 เป็น ±0.001 ดังแสดงในรูปที่ 7 นอกจากนี้ค่า goodness of fit เมื่อเทียบกับระหว่าง Fit #1 และ Fit #2 ในรูปที่ 8 เช่น ค่า χ
2 ลดลงแสดงว่า fit และข้อมูลมีความแตกต่างกันน้อยลง และค่า reduce χ
2 ลดลงถึงแม้มีตัวแปรมากขึ้นแสดงว่าตัวแปรที่เพิ่มขึ้นในการใช้ 2 gauss ส่งผลดีขึ้น
รูปที่ 7 แสดง fit จากการใช้ 2 gauss ค่า centroid แสดงด้วยเส้นตั้งสีแดง
รูปที่ 8 แสดงผลตัวแปรและ goodness of fit จากการ Fit
เอกสารอ้างอิง
[1] B. Ravel and M. Newville, ATHENA, ARTEMIS, HEPHAESTUS: data analysis for X-ray absorption spectroscopy using IFEFFIT. Journal of Synchrotron Radiation: 12, 537–541 (2005) doi:10.1107/S0909049505012719
[2] M. Newville, Larch: An Analysis Package For XAFS And Related Spectroscopies. Journal of Physics: Conference Series, 430:012007 (2013) doi.org/10.1088/1742-6596/430/1/012007